高性能电源 IC 和霍尔效应传感器
Allegro MicroSystems 公司为汽车电子市场中的无缺陷计划对 Galaxy 的 PAT- MAN 进行标准化
PAT-MAN 让 Allegro MicroSystems 公司能够扩展晶片探测操作的“部件平均测试 (PAT)”部署 
马萨诸塞州的伍斯特市和马萨诸塞州的沃尔瑟姆，2006 年 6 月 20 日 — 全球高性能功率集成电路和霍尔效应传感器的领导厂商Allegro MicroSystems 公司以及 IC 测试数据分析及质量改善软件供应商 Galaxy Semiconductor Solutions 当天宣布，两家公司已就 Galax 的 PAT-MAN 软件达成许可协议。
Allegro 已采纳 Galaxy 的 PAT-MAN 解决方案作为其在制造领域无缺陷计划的重要拓展，该解决方案主要面向高可靠性汽车应用。 PAT-MAN 让 Allegro 可在其整个晶片探测操作中扩大“部件平均测试 (PAT)”流程的部署。 PAT 是 “异常值” 检测和移除的过程，由此那些符合规格但不在测试结果正常分配范围之内的部件将从产品装运中剔除。 “汽车电子学会 (AEC)”在过去几年始终致力于推动 PAT 的应用，PAT 所采纳的工业数据已表明异常值具有相当高的故障率。
“ 我们的晶片探测操作中引入 Galaxy PAT-MAN 软件可加强 Allegro 对质量和持续改进的承诺”， Allegro 汽车营销经理 Bob Brodeur 如是说，“同时也将加速我们为关键汽车应用提供业界最可靠元件。”
“我们致力于为 PAT 以及优秀的 Galaxy PAT-MAN 软件提供主要商业解决方案”， Allegro 电源 IC 事业部开发总监 Dave Manchester 说。 “我们特别青睐 PAT-MAN软件的速度、效率与报告能力，以及它是基于 Galaxy 非常流行的 Examinator 软件的非常牢固的数据分析。”
Galaxy 的 PAT-MAN™ 是为“部件平均测试 (PAT)”和相关 DPM 削减技术打造的全面的软件解决方案，可对从最初的晶片批量特性到最终测试成品监控的整个 PAT 流程进行管理。 PAT-MAN 将闭环方法应用到 PAT，有助于在最小化不必要的成品损失的同时改善器件质量。 PAT-MAN 还同时为异常值规则的快速设置及模拟提供独特、简单易用的环境，以及为生产中的 PAT 相关成品管理提供自动监控系统。
“越来越的业界领导者选择 PAT-MAN 作为其汽车电子可靠性举措的一部分，我们很高兴 Allegro MicroSystemsas 能够成为其中的一员”， Galaxy Semiconductor 首席运营官 Bertrand Renaud 说。 “PAT 的采用正明显提速，PAT-MAN 是许多象 Allegro 一样致力于为众多汽车 IC 应用实现无缺陷的公司的首选。”
Allegro 简介
Allegro MicroSystems 公司在高性能功率集成电路和集成霍尔效应磁性传感器的开发、制造及营销领域始终引领全球潮流。 Allegro 独具创新的系统级解决方案服务于汽车、计算机/办公自动化、工业、消费和通讯市场中的高增长应用，而我们的顶尖产品和流程则增强了我们在电动器驱动器和电源管理技术方面的技术实力。 此外，我们还在打印机、扫描仪、复印机和便携设备（如移动电话）应用中处于领先地位。 Allegro 共有 2400 多名员工，总部位于马萨诸塞州的伍斯特市。 有关 Allegro 的更多信息，请登录 www.allegromicro.com。
Galaxy 简介
Galaxy Semiconductor Solutions 是半导体行业测试数据分析和质量改进解决方案的领先供应商。 Galaxy 产品得到全球 1000 多家用户的广泛使用，有助于提高器件产出，降低缺陷及改进工程生产率。 Galaxy 产品易学易用，不仅投资回报可观，而且效果立竿见影。 有关 Galaxy 的更多信息，请登录 www.galaxysemi.com。
联系人： Allegro MicroSystems 公司
Stephanie Fennelly
sfennelly@allegromicro.com
电话： (508) 854-5363
联系人： Galaxy Semiconductor
Bertrand Renaud
Bertrand.renaud@galaxysemi.com
电话： (781) 891-1148
资料来源： Allegro MicroSystems 公司、Galaxy Semiconductor, Inc
编者注： PAT-MAN 是 Galaxy Semiconductor 的商标