A1342: 安全性重視のアプリケーション向け 高度な診断機能付き プログラマブル リニア ホール IC

Description

A1342 デバイスは、1つのオープン ドレイン出力を持ち車載および非車載双方のアプリケーション向け 高精度、プログラマブル ホール効果リニアセンサー ICです。A1342 の信号経路は入力磁気信号から正確かつカスタマイズされた出力電圧を生成出来る、外部プログラミングによる柔軟性を提供します。

A1342 は最も要求の厳しいリニア フィールド センサ アプリケーション向けの、特に設定度と信頼性の高い解決策です。BiCMOS モノリシック集積回路は、ホール センサー エレメント、ホール エレメントの固有の感度を低減しドリフトを相殺するための高精度温度補償回路、小信号高ゲイン増幅器、特許取得済みのダイナミック オフセット キャンセル回路、および最先端の出力線形化回路と先進的な診断機能を統合しています。A1342は他に類を見ないレベルの、カスタマがプログラムできるオプションを提供します。

A1342 の重要な機能は、非線形の入力磁場に対して高度にリニアなデバイス出力を生成する能力です。これを実現するためにデバイスは ユニークな線形化係数をそれぞれのセグメントに適用出来る様な、16 セグメント分の カスタマがプログラム可能な線形化を特徴としております。線形化係数は EEPROM の参照テーブルに保存されます。

A1342 は選択可能な2種類の出力オプション: SENT または PWM があります。更に SAEJ2716に関連し、A1342 は2つの独自の SENT オプション: SSENT と ASENTがあります。これら双方のプロトコルはシステムのコストを低減するため、1つのSENT ライン に最大4つのデバイスをバス 構成出来ます。SSENT は同じラインに接続された幾つかのセンサ を順次アクセスする事が出来ます。 SSENT は単一SENT ライン上でのセンサの帯域幅を最大限にし、システムのパーフォーマンスへの影響を少なくする様な非常に低いオーバーヘッド方式を提供します。ASENT は共通 SENT ライン上の全てのセンサをランダムにアクセスする事が出来ます。双方のプロトコルは他のセンサが継続して問い合わせに応答を行いながら、その同一ライン上の個々のセンサーを診断モードに移行出来るので、センサ ソルーションの有効性を100%保ちながら非常に高度な診断範囲を実現します。

A1342 は100% 曇り錫でめっき加工された、スルーホールの鉛フリーの 3 ピン シングル インライン パッケージ (末尾は UC) で提供されます。

Top Features

  • 高速な アナログ部、 A-to-D コンバータ (ADC) とデジタル アーキテクチャにより、スピードに敏感なアプリケーションにあった帯域幅のユーザ選択が行えます
    • チョッパ安定化を4ステップで行いオフセット ドリフトを動作温度内で最小化
    • 高更新レートの 16-bit ADC
  • 車載向け AEC-Q100 準拠
  • 製品寿命期間と全般の温度変化に渡り優れた安定性
    • 工場設定された多重セグメントの温度補償は、動作温度範囲内で平坦なベース ラインを実現します
    • 温度範囲内でカスタマが設定可能な一番めと2番目のオーダーの感度、及び1番目のオーダーのオフセットの補償
    • 製品寿命を通じて、統合化されたフィードバック コイルによるドリフト補償
  • どの様なアプリケーションにも適する、幅広い動作の柔軟性:
    • フィールド レンジは ±40 ~ ±1800 ガウス
    • レールから負レールの オフセットを設定可
    • 高精度で全出力レンジの上位クランプと下位クランプ
    • 統合化された線形化機能は非線形な磁気入力の為の柔軟な出力波の変換と補償を実現します
    • 内蔵されたキャパシタにより非常に堅牢なESD性能と強化されたEMC性能を実現
  • 高度な、診断に特化した機能によりシステム レベルでのASILの準拠を容易にします
    • 内部磁気コイルを用いてのフロント エンド部を能動的に活性化し、全データ経路の検証を行います; この方法によってデバイスの動作に関わる全てのトランジスタを検証します
    • Logic Built-In Self Test (LBIST) の要求によるデジタル サブシステムの検証
    • 変更可能な障害監視を行う、幅広いプログラム セットで以下の様なシステム レベルの障害検出を提供:
      • 過電圧 または 低電圧
      • 過熱
      • 磁場の測定範囲外の検出
      • 開回路検出
  • 最高で12-bitの分解能と設定可能なエラー伝達機能を持つ、柔軟な出力プロトコル
    • デジタル オープン ドレイン 出力により、柔軟性のある出力電圧を提供
    • PWM (Pulse-Width-Modulated) 出力は障害状態の識別を行える診断出力モードを備えます
    • SENT (Single Edge Nibble Transmission) に準拠した出力で、設定可能なエラー状態のレポートや他の診断情報を提供
    • 独自の高速 SENT にてデータ レートの増加を実現し、高帯域のアプリケーションをサポート
    • デバイスが共有する SENT プロトコル、 SSENT (Sequential SENT) と ASENT (Addressable SENT) は高速通信のために、ユーザは最大4つのデバイスを同じ出力ラインに接続出来ます
    • 立ち下り時間のプログラムでより一層のEMC最適化が行えます
  • 内蔵 EEPROM を用いて高度な設定と製品の追跡性を実現
    • カスタマー予約領域を用い、固有のロット番号や製造年月日情報を基板上に保管が可能
    • 単一エラーの訂正と二重エラー検出能力 (SECDED) で、信頼性のある EEPROM
    • 統合化されたチャージ ポンプにより、プログラム中のデバイスに高い電圧を供給することなしに、アプリケーション内でプログラムを行える事が可能

Part Number Specifications and Availability

Part Number Package Type Temperature RoHS
Compliant
Part Composition /
RoHS Data
Comments Samples Check Stock
A1342LUCLU-T n/a -20°C to 85°C Yes View Data Contact your
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ASEK-1342-SUBKIT-T DEMO BOARD -40°C to 150°C No -- Contact your
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Packaging

A1342 Package

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